登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
The bugbook 2 : Logic and memory experiments; using TTL integrated circuits
出版社：
Blacksburg, Va. : E and L Instruments ; 1975.
ISBN：
￥2.20
出版年：
1975
作者：
Rony,Peter R.
资源类型：
图书
细分类型：
西文文献
3浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
The bugbook 2 : Logic and memory experiments; using TTL integrated circuits
作者：
Rony,Peter R.
出版社：
Blacksburg, Va. : E and L Instruments ; 1975.
出版年：
1975
The bugbook 2 : Logic and memory experiments;using TTL integrated circuits
作者：
Rony,Peter R.98012
出版社：
Blacksburg,Va.: E & L Intruments, c1975.
出版年：
1975
The bugbook,1 : Logic and memory experiments;using TTL integrated circuits
作者：
Rony,Peter R.98012
出版社：
Blacksbrg,Va.: E & L Insruments, c1975.
出版年：
1975
The bugbook : v. 2. Logic and memory experiments, using TTL integrated circuits
出版社：
Blacksburg : E&L Instruments, 1975
出版年：
1975
The bugbook : v. 1. Logic and memory experiments : using TTL integrated circuits
出版社：
Blacksburg : E&L Instrumants, 1975
出版年：
1975
Logic & Memory Experiments Using TTL INtegrated Circuits
作者：
P.R.Rony
ISBN：
0672215438
出版社：
0000.00
×
访问借阅管理系统
问图书管理员
馆际互借