相关推荐

背栅偏置调控SOI晶体管总剂量辐射损伤规律及机理研究

  • 作者:王海洋
  • 出版社:中国科学院新疆理化技术研究所
  • 出版年:2022

辐射损伤与跄 基化合物

  • 出版社:出版社
  • 出版年:1976

CCD器件的辐射损伤效应及其机理研究

  • 作者:李鹏伟
  • 出版年:2009