相关推荐

高介电常数氧化物缺陷与掺杂的第一性原理研究

  • 作者:刘竹友
  • 出版社:中国科学院半导体研究所
  • 出版年:2023

硅基体中点缺陷扩散行为的第一原理研究

  • 作者:马尚义
  • 出版年:2010

固体中点缺陷的光跃迁和超精细耦合的第一性原理研究

  • 作者:刘明哲
  • 出版社:中国科学技术大学
  • 出版年:2024