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Speckle 2018 : VII International Conference on Speckle Metrology : 10-12 September 2018 Janów Podl
出版社：Bellingham, Washington : SPIE, 2018.
ISBN：9781510622975
出版年：2018
作者：International Conference on Speckle Metrology
资源类型：图书
细分类型：西文文献
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Speckle 2012 : V International Conference on Speckle Metrology : 10-12 September 2012, Vigo, Spain
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  • 出版年：2012
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Second International Conference on Photomechanics and Speckle Metrology : speckle techniques, birefr
  • 作者：Chiang,Fu-Pen.
  • ISBN：0819406821
  • 出版社：Bellingham, Wash. : SPIE, c1991.
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Speckle metrology
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  • ISBN：0824789326
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2018 IEEE International Conference on RFID (RFID 2018) : Orlando, Florida, USA, 10-12 April 2018.
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  • 出版社：Piscataway, N.J. : IEEE, 2018.
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2018 International Semicondctor Conference (CAS 2018) : Sinaia, Romania, 10-12 October 2018.
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  • ISBN：9781538644836
  • 出版社：Piscataway, N.J. : IEEE, 2018.
  • 出版年：2018
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Speckle 2023 : VIII International Conference on Speckle Metrology : 18-20 October 2023, Xi''an, China
  • 作者：International Conference on Speckle Metrology
  • ISBN：9781510674585
  • 出版社：Bellingham, Washington : SPIE, 2024.
  • 出版年：2024