登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
半导体材料及器件辐射缺陷与表征方法
出版社:
哈尔滨工业大学出版社
ISBN:
9787576705447
出版年:
2023
作者:
李兴冀等编著
资源类型:
图书
细分类型:
中文文献
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
半导体材料及器件的辐射效应
作者:
刘忠立,高见头编著
ISBN:
9787118119299
出版社:
国防工业出版社
出版年:
2020
先进半导体材料及器件的辐射效应
作者:
克拉艾
ISBN:
9787118054088
出版社:
国防工业出版社
出版年:
2008
半导体材料与器件表征
作者:
施罗德
ISBN:
9787569302189
出版社:
西安交通大学出版社
出版年:
2017
硅中缺陷与器件质量 :半导体材料学进展译文集
作者:
王儒全
出版社:
轻工业出版社
出版年:
1980
硅中缺陷与器件质量 (半导体材料学进展译文集)
作者:
王儒全
出版社:
轻工业出版社
出版年:
1980
半导体材料的辐射效应
作者:
曹建中
ISBN:
7030033221
出版社:
科学出版社
出版年:
1993
×
访问借阅管理系统