登录
 机构网站
  1. 首页
  2. 馆藏纸本
  3. 图书详情
...

0.18μm部分耗尽SOIH形栅NMOSFET常温下热载流子效应的研究
出版年：2016
作者：李宁
资源类型：图书
细分类型：学位论文
1浏览量
 馆际互借
访问借阅管理系统
相关推荐
...

130nm部分耗尽SOI器件的总剂量辐射效应与热载流子协同效应研究
  • 作者：张梦映
  • 出版社：中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 出版年：2019
...

部分耗尽SOI器件研究
  • 作者：毕津顺
  • 出版年：2008
...

部分耗尽SOI器件总剂量辐射效应及其背栅加固技术研究
  • 作者：黄辉祥
  • 出版年：2014
...

MOSFET低温性能及热载流子效应研究
  • 作者：张心怡
  • 出版社：中国科学院微电子研究所
  • 出版年：2024
...

全后栅工艺高k/金属栅结构NMOS器件的热载流子注入退化特性研究
  • 作者：罗维春
  • 出版年：2016
...

双层SOI器件的总剂量辐射效应与热载流子效应研究
  • 作者：汪子寒
  • 出版社：中国科学院上海微系统与信息技术研究所
  • 出版年：2023