先进集成电路器件可靠性-高压N型器件热载流子效应和先进表征技术

先进集成电路器件可靠性-高压N型器件热载流子效应和先进表征技术

出版年：2008

作者：戴明志

资源类型：图书

细分类型：学位论文

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