登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
LSI/VLSI testability design
出版社：
New York : McGraw-Hill, c1987.
ISBN：
0070653410
出版年：
1987
作者：
Tsui,Frank F.
资源类型：
图书
细分类型：
西文文献
1浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
作者：
Wang,Laung-Terng
ISBN：
0123705975
出版社：
Morgan Kaufmann., 2006
出版年：
2006
Optimal VLSI architectural synthesis : area, performance, and testability
作者：
Gebotys,Catherine H.
ISBN：
079239223X
出版社：
Boston : Kluwer Academic Publishers, c1992.
出版年：
1992
Introduction to MOS LSI design
作者：
Mavor,J.
ISBN：
0201144026
出版社：
London : Addison-Wesley, c1983.
出版年：
1983
MOS/LSI design and application
作者：
Carr,William N.,
ISBN：
0070100810
出版社：
New York, McGraw-Hill [1972]
出版年：
1972
Introduction to MCS LSI design
作者：
Mavor,J.
出版社：
London : Addison-Wesley, c1983
出版年：
1983
Digital design with standard MSI and LSI
作者：
Blakeslee,Thomas R.,
ISBN：
0471079375
出版社：
New York : Wiley, 1975.
出版年：
1975
×
访问借阅管理系统
问图书管理员
馆际互借