登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
Optical surfaces : aspherical optical systems X-ray optics reflecting microscopes reflectors measure
出版社:
Amsterdam : Elsevier, 1977
ISBN:
0444998683
出版年:
1977
作者:
Jurek,Bohumil
资源类型:
图书
细分类型:
西文文献
2浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
Crazing incidence and multilayer x-ray optical systems
作者:
Hoover,Richard B.,
ISBN:
0819425354
出版社:
Bellinghaw : SPIE, 1997.
出版年:
1997
Optics for EUV, X-ray, and gamma-ray astronomy IX : at SPIE Optical Engineering + Applications : 13-
作者:
O''Dell,Stephen L.
ISBN:
9781510629318
出版社:
Bellingham, Washington : SPIE, 2019.
出版年:
2019
Advances in metrology for X-Ray and EUV optics VIII : at SPIE Optical Engineering + Applications : 1
作者:
Assoufid,Lahsen.
ISBN:
9781510629110
出版社:
Bellingham, Washington : SPIE, 2019.
出版年:
2019
Advances in X-Ray/EUV optics and components XIV : at SPIE Optical Engineering + Applications : 14-15
作者:
Khounsary,Ali M.
ISBN:
9781510629097
出版社:
Bellingham, Washington : SPIE, 2019.
出版年:
2019
Advances in laboratory-based X-ray sources, optics, and applications VII : at SPIE Optical Engineeri
作者:
Murokh,Alex.
ISBN:
9781510629134
出版社:
Bellingham, Washington : SPIE, 2019.
出版年:
2019
X-ray lasers and coherent x-ray sources : development and applications XIII : at SPIE Optical Engine
作者:
Klisnick,Annie.
ISBN:
9781510629158
出版社:
Bellingham, Washington : SPIE, 2019.
出版年:
2019
×
访问借阅管理系统