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Third IEEE International Workshop on Electronic Design Test and Applications : 17-19 January 2006
出版社：
Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Society, c2006.
ISBN：
0769525008
出版年：
2006
作者：
IEEE International Workshop on Electronic Design,Test and Applications
资源类型：
图书
细分类型：
西文文献
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Bellingham, Wash., USA : SPIE, c1989.
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