登录
机构网站
切换导航
首页
到馆服务
学科服务
研究支持
情报产品
数据资源
科学传播
关于我们
首页
馆藏纸本
图书详情
基于数据驱动的RRAM芯片可靠性预测模型、优化及应用研究
出版社:
中国科学院微电子研究所
出版年:
2024
作者:
郑旭
资源类型:
图书
细分类型:
学位论文
4浏览量
问图书管理员
馆际互借
点赞
收藏
访问借阅管理系统
分享
相关推荐
软件可靠性模型的研究及应用
作者:
朱新根
出版年:
1992
RRAM的存储与计算可靠性优化研究
作者:
谢治文
出版社:
中国科学院计算技术研究所
出版年:
2023
圆片级芯片尺寸封装可靠性研究
作者:
宁文果
出版年:
2013
工业芯片可靠性设计
作者:
赵东艳
ISBN:
9787560667102
出版社:
西安电子科技大学出版社
出版年:
2023
芯片封装中铜线键合产品的可靠性研究
作者:
赵亮
出版年:
2013
软件可靠性模型及应用
作者:
徐仁佐
ISBN:
7302013322
出版社:
清华大学出版社
出版年:
1994
×
访问借阅管理系统