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Defects in high-k gate dielectric stacks : nano-electronic semiconductor devices
出版社：
Dordrecht : Springer, c2006.
ISBN：
140204366X
出版年：
2006
作者：
NATO Advanced Research Workshop on Defects in High-K Dielectric Nano-electronic Semiconductor Device
资源类型：
图书
细分类型：
西文文献
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