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Characterization Methods for Submicron MOSFETs
EISBN:
9781461313557
PISBN:
9780792396956
出版社:
Springer US
出版类型:
Contributed volume
出版时间:
1995
版次:
1995
作者:
Hisham Haddara
主题词:
Engineering,Electronics and Microelectronics,Instrumentation,Circuits and Systems,Electrical Engineering
语种:
英语
所属数据库:
SpringerLink电子图书(1815-2004)
丛书题名:
The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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